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EVENT
22.10.2019
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Art: Messe
Dauer: 3 Tage
Beginn: 22.10.2019
Ort: Köln

Eintritt: kostenpflichtig
Mehr Informationen
Messe FILTECH 2019 Köln

FILTECH 2019

Messe

FILTECH ist die größte und wichtigste Filtrations-Messe weltweit. Die internationale Fachmesse und Konferenz für Filter- und Trenntechnik ist eine Muss für alle, die sich mit Design, Verbesserung, Einkauf, Verkauf oder Research im Bereich der Filtration beschäftigen. FILTECH ist die internationale Branchenplattform und zugleich Lösungsanbieter für alle Marktsegmente.
 

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Tradition fortgesetzt: Richard-Sebastian Moeller erhielt den diesjährigen LUM Young Scientist Award
Tradition fortgesetzt: Richard-Sebastian Moeller erhielt
den diesjährigen LUM Young Scientist Award 2019 fand die 9. Internationale Konferenz zur Dispersionsanalyse und Materialtestung wieder in Berlin statt. Seit 2014 wird von LUM GmbH der Young Scientist Award (YSA) für herausragende wissenschaftliche Leistungen auf dem Gebiet der Partikel- und Dispersionsanalyse sowie Materialtestung ausgeschrieben und nach festgelegten Qualitätskriterien auf der Konferenz vergeben. Dr.-Ing. Richard-Sebastian Moeller, Karlsruhe Institut für Technologie, Deutschland, wurde mit dem LUM Young Scientist Award 2019 für seine Arbeiten im Rahmen seiner Dissertation zu praxisrelevanten Fragen des Bäckereihandwerks ausgezeichnet. Mit seiner nominierten Arbeit From the Life of Proving Cloths [1] trägt Moeller zum besseren Verständnis der Partikeladhäsion an Oberflächen entschieden bei und gibt praktische Anweisungen für das hygienische Design und eine längere Nutzungsdauer der Teigtücher. Der LUMiSizer wird hier für die Bestimmung von mechanischen Partikeleigenschaften mittels
25.09.2019  |  8856x  |  Kurzbericht  | 
2D/3D Rheologie und Stabilität von dispersen Systemen Seminar in Potsdam vom 3.-5.Juni 2019
2D/3D Rheologie und Stabilität von dispersen Systemen
Seminar in Potsdam vom 3.-5.Juni 2019 Anton Paar, Sinterface und LUM veranstalten das nächste Kooperationsseminar 2D/3D Rheologie und Stabilität von dispersen Systemen in Potsdam vom 3. bis 5. Juni 2019. Diese Veranstaltung ist in deutscher Sprache. Wir laden Sie herzlich zur Teilnahme ein. Auszug aus dem Programm: Grundlagen der Grenzflächenphänomene und 2D-Rheologie Stabilität von Dispersionen - allgemeine Grundlagen und Messmethoden Grundlagen der Korngrößenverteilung 3D-Rheologie, Grundlagen der Rotation und Oszillation mit Anwendungsbeispielen Direkte und beschleunigte Stabilitätsbestimmung und Partikelcharakterisierung in Emulsionen und Suspensionen Wechselbeziehungen zwischen dem Stabilitätsverhalten von Nano- und Mikrodispersionen und der Rheologie des Dispersionsmediums Bestimmung der Stabilität von Cremes mittels Rheologie und analytischer Zentrifuge Dispersionsstabilität und Grenzflächeneigenschaften und deren Einfluss auf die Suspensionsrheologie Bestimmung der Partikelgrößenverteilung
10.05.2019  |  4591x  |  Kurzbericht  | 
Internationale Konferenz im Mai feiert das 25-jährige Bestehen der Berliner LUM GmbH
Internationale Konferenz im Mai
feiert das 25-jährige Bestehen der Berliner LUM GmbH Die LUM GmbH ist ein führender internationaler Anbieter für innovative Messtechnik der Dispersionsanalyse und Materialtestung. Seit der Gründung durch Prof. Dr. Dr. D. Lerche im Jahre 1994 ist LUM auch einer hohen Wissenschaftlichkeit verpflichtet und trägt durch die Förderung von Wissenschaft und Technik als auch durch eigene Beiträge zur Weiterentwicklung auf den Kompetenzfeldern Partikelcharakterisierung, Suspensions- und Emulsionsanalyse und Stabilitätsbeurteilung als auch Bestimmung der Füge- und Schichtfestigkeit bei. Vom 22. bis 23. Mai 2019 feiert LUM mit der 9. Internationalen Konferenz zur Dispersionsanalyse und Materialtestung in Berlin ihr 25-jähriges Bestehen. Das finale Programm lädt Partikelforscher, Dispersions- und Emulsionsformulierer, Materialprüfer aus aller Welt nach Berlin zum Wissens-und Erfahrungsaustausch. Die Keynote Lecture zum Thema „Progress in particle characterization by sedimentation analysis“ wird von Prof. Dr.-Ing. Wolfgang
26.04.2019  |  7875x  |  Kurzbericht  | 
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