Mittels der patentierten DLOIOS-Technologie lassen sich auch Nano-Partikel (ab 10 nm) zuverlässig charakterisieren: Die zusätzliche Linse zwischen Laser und Probenkammer ermöglicht die Detektion des rückgestreuten Lichtes. Die Verwendung nur eines Lasers liefert ein kontinuierliches Streuspektrum mit konsistenter Wellenlänge, der schräge Lichteinfall gestattet die Detektion im kontinuierlichen Winkelbereich bis 165°.

Da die maximale Streulichtintensität großer Partikel bei nur sehr kleinen Winkel detektiert werden kann, lassen sich diese mit der klassischen statischen Lichtstreuung nur unzureichend genau analysieren. Das Bildanalysesystem des Bettersizer S3 Plus ermöglicht durch die Teilchenerfassung mittels Kamera im Gegensatz zu anderen Laserbeugungs-systemen die zuverlässige Detektion größerer Partikel und erlaubt somit realistische Messungen bis 3,5 mm.

Dank der implementierten dynamischen Bildanalyse lassen sich aus den Bildern der Einzelpartikel die wichtigsten Formparameter berechnen – Aspektverhältnis, Zirkularität, Kantenschärfe u.a.

Die Formanalyse lässt sich simultan zur Größenanalyse oder autark durchführen. Dabei kann zwischen zwei Vergrößerungen zur Bildaufnahme gewählt werden (0.5x und 10x).